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亿图视觉取得亚微米位移测量装置专利,提高测量精度

2026年05月19日 05:24
 

国家知识产权局信息显示,深圳市亿图视觉自动化技术有限公司取得一项名为“一种亚微米位移测量装置”的专利,授权公告号CN223741495U,申请日期为2025年2月。

专利摘要显示,本实用新型公开一种亚微米位移测量装置,该装置包括测试头、固定座、光电位移测量组件、传动组件和限位块,固定座架设在限位块上,传动组件依次贯穿固定座和限位块,且固定座和限位块均与传动组件固定连接;光电位移测量组件设置在限位块与固定座之间,测试头固定连接在传动组件的第一端上,测试头用于抵接被测零件;当被测零件发生位移时,传动组件根据被测零件施加的压力带动光电位移测量组件进行移动并测量位移量。本申请通过将固定座架设在限位块上,传动组件贯穿固定座和限位块,光电位移测量组件设置在限位块与固定座之间,减小位移测量装置的体积,并通过光电位移测量组件提高测量精度,使位移测量装置适用于特定测量场景。

天眼查资料显示,深圳市亿图视觉自动化技术有限公司,成立于2016年,位于深圳市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本1367.8153万人民币。通过天眼查大数据分析,深圳市亿图视觉自动化技术有限公司共对外投资了4家企业,参与招投标项目2次,财产线索方面有商标信息2条,专利信息55条,此外企业还拥有行政许可13个。

声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。