电流测量仪表-赛克数码

同共精密成形申请一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置专利，测量方法操作简便、扩展成本低

国家知识产权局信息显示，同共（湖北）精密成形有限公司申请一项名为“一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置”的专利，公开号CN 121048497 A，申请日期为2025年9月。专利摘要显示，本发明涉及一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置，该方法包括以下步骤：调节触发器和待测物品的相对高度，使触发器位于待测物品的第一待测面的垂直投影内；水平移动待测物品，以使触发器与第一待测面接触，记录待测物品的第一水平位置；调节触发器和待测物品的相对高度使触发器位于待测物品的第二待测面的垂直投影内水平移动待测物品，以使触发器与第二待测面接触，记录待测物品的第二水平位置；通过第一水平位置和第二水平位置来计算第一待测面和第二待测面的间距。本申请能在现有的二维影像测量仪上进行拓展，基于现有的二维影像测量仪

查看 >>2026-09-07

同共精密成形申请一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置专利，测量方法操作简便、扩展成本低

国家知识产权局信息显示，同共（湖北）精密成形有限公司申请一项名为“一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置”的专利，公开号CN 121048497 A，申请日期为2025年9月。专利摘要显示，本发明涉及一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置，该方法包括以下步骤：调节触发器和待测物品的相对高度，使触发器位于待测物品的第一待测面的垂直投影内；水平移动待测物品，以使触发器与第一待测面接触，记录待测物品的第一水平位置；调节触发器和待测物品的相对高度使触发器位于待测物品的第二待测面的垂直投影内水平移动待测物品，以使触发器与第二待测面接触，记录待测物品的第二水平位置；通过第一水平位置和第二水平位置来计算第一待测面和第二待测面的间距。本申请能在现有的二维影像测量仪上进行拓展，基于现有的二维影像测量仪

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#作物株高测量仪#IN-ZG01作物株高测量仪测量范围：40-300cm（400cm可定制）测量精度：1mm测量方式：光学测距外壳材质：铝合金软件系统：Android工作时间：连续工作能力超过10小时#植物株高测量仪#

#作物株高测量仪#

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#小麦株高测量仪# IN-ZG02小麦株高测量仪技术参数测量范围：5-260cm测量精度：1mm测量方式：光学测距外壳材质：铝合金软件系统：Android工作时间：连续工作能力超过10小时#作物株高快速测量仪#

#小麦株高测量仪#

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中图仪器申请匹配测量方法及影像测量设备专利，提高测量结果的准确度

国家知识产权局信息显示，深圳市中图仪器股份有限公司申请一项名为“一种匹配测量方法及影像测量设备”的专利，公开号CN121383857A，申请日期为2025年12月。专利摘要显示，本申请涉及一种匹配测量方法及影像测量设备。所述方法包括：利用扫描装置获取第一待测工件的扫描图像，并于第一待测工件的扫描图像中确定图像匹配模板以及与图像匹配模板关联的第一特征测量模板；确定图像匹配模板以及第一特征测量模板之间的第一相对位置关系；基于多个待测工件的位置，控制扫描装置获取目标待测工件的扫描图像，并基于图像匹配模板在目标待测工件的扫描图像中确定图像匹配区域；基于目标待测工件的扫描图像中的图像匹配区域以及第一相对位置关系，于目标待测工件中确定第一特征测量区域；基于第一特征测量区域得到目标待测工件的测量结果。采用

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中图仪器申请多层匹配测量方法及影像测量设备专利，能够提高测量结果的效率和准确度

国家知识产权局信息显示，深圳市中图仪器股份有限公司申请一项名为“一种多层匹配测量方法及影像测量设备”的专利，公开号CN121366163A，申请日期为2025年12月。专利摘要显示，本申请涉及一种多层匹配测量方法及影像测量设备。所述方法包括：基于模板工件的工件图像，确定工件匹配模型、至少一个局部匹配模型、至少一个第一特征测量模型以及各局部匹配模型与各第一特征测量模型之间的第一相对位置关系；基于扫描装置对载物台的第一选定区域进行拍摄得到的第一待测量图像以及工件匹配模型，在第一待测量图像中确定至少一个工件匹配区域；基于各工件匹配区域以及局部匹配模型，确定与各工件匹配区域对应的局部匹配区域；基于与各工件匹配区域对应的局部匹配区域以及第一相对位置关系的各待测工件的第一特征测量区域，确定第一待测量图像

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#小麦株高测量仪#IN-ZG02小麦株高测量仪技术参数测量范围：5-260cm测量精度：1mm测量方式：光学测距外壳材质：铝合金软件系统：Android工作时间：连续工作能力超过10小时#作物株高快速测量仪#

#小麦株高测量仪#

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方源取得用于解析塔的物位测量仪专利，使测量仪表能够全面地被清理

国家知识产权局信息显示，珠海经济特区方源有限公司取得一项名为“一种用于解析塔的物位测量仪”的专利，授权公告号CN223783693U，申请日期为2024年11月。专利摘要显示，本实用新型涉及测量仪技术领域，尤其涉及一种用于解析塔的物位测量仪，包括：固定连接在解析塔上的安装管，安装管与解析塔连通；固定连接在所述安装管上的装入口；活动连接在所述装入口上的测量仪表，测量仪表能够从安装管上自由取放，测量仪表穿过安装管插入解析塔中；固定连接在所述安装管上用于与高压风机连接的安装口；所述安装管的侧壁内设置有环形腔，环形腔倾斜设置，其上部的横截面积大于其下部的横截面积，安装口与环形腔连通；所述环形腔的下部穿通所述安装管的位置设为出口，出口朝向测量仪表。本实用新型通过设置环形腔对高压风流进行导流，使测量仪表

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多功能测量仪表

这是(Acrelhn520)整理的信息，希望能帮助到大家在日常生活中，我们可能会遇到多种测量需求，比如测量温度、湿度、电压、光照等。你是否想过，是否有一种工具可以满足这些多样化的测量需求呢？多功能测量仪表正是应运而生，它集成了多种测量功能，为我们日常生活和工作提供了极大的便利。多功能测量仪表通常具备多种测量模式，比如温度、湿度、气压、光照强度、电压、电流等。这样一来，用户在使用时无需携带多个仪器，只需一个仪表便可以完成多种测量任务。这种设计不仅节省了空间，还减少了使用时的麻烦。那么，多功能测量仪表具体是如何工作的呢？这类仪表通常采用传感器技术来实现不同参数的测量。以温度测量为例，仪表内部会有一个温度传感器，当环境温度变化时，传感器会将这些变化转换为电信号，并通过内部电路进行处理，最终在显示屏

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亿图视觉取得亚微米位移测量装置专利，提高测量精度

国家知识产权局信息显示，深圳市亿图视觉自动化技术有限公司取得一项名为“一种亚微米位移测量装置”的专利，授权公告号CN223741495U，申请日期为2025年2月。专利摘要显示，本实用新型公开一种亚微米位移测量装置，该装置包括测试头、固定座、光电位移测量组件、传动组件和限位块，固定座架设在限位块上，传动组件依次贯穿固定座和限位块，且固定座和限位块均与传动组件固定连接；光电位移测量组件设置在限位块与固定座之间，测试头固定连接在传动组件的第一端上，测试头用于抵接被测零件；当被测零件发生位移时，传动组件根据被测零件施加的压力带动光电位移测量组件进行移动并测量位移量。本申请通过将固定座架设在限位块上，传动组件贯穿固定座和限位块，光电位移测量组件设置在限位块与固定座之间，减小位移测量装置的体积，并通过

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