厚度测量仪器-赛克数码

中图仪器申请匹配测量方法及影像测量设备专利，提高测量结果的准确度

国家知识产权局信息显示，深圳市中图仪器股份有限公司申请一项名为“一种匹配测量方法及影像测量设备”的专利，公开号CN121383857A，申请日期为2025年12月。专利摘要显示，本申请涉及一种匹配测量方法及影像测量设备。所述方法包括：利用扫描装置获取第一待测工件的扫描图像，并于第一待测工件的扫描图像中确定图像匹配模板以及与图像匹配模板关联的第一特征测量模板；确定图像匹配模板以及第一特征测量模板之间的第一相对位置关系；基于多个待测工件的位置，控制扫描装置获取目标待测工件的扫描图像，并基于图像匹配模板在目标待测工件的扫描图像中确定图像匹配区域；基于目标待测工件的扫描图像中的图像匹配区域以及第一相对位置关系，于目标待测工件中确定第一特征测量区域；基于第一特征测量区域得到目标待测工件的测量结果。采用

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中图仪器申请多层匹配测量方法及影像测量设备专利，能够提高测量结果的效率和准确度

国家知识产权局信息显示，深圳市中图仪器股份有限公司申请一项名为“一种多层匹配测量方法及影像测量设备”的专利，公开号CN121366163A，申请日期为2025年12月。专利摘要显示，本申请涉及一种多层匹配测量方法及影像测量设备。所述方法包括：基于模板工件的工件图像，确定工件匹配模型、至少一个局部匹配模型、至少一个第一特征测量模型以及各局部匹配模型与各第一特征测量模型之间的第一相对位置关系；基于扫描装置对载物台的第一选定区域进行拍摄得到的第一待测量图像以及工件匹配模型，在第一待测量图像中确定至少一个工件匹配区域；基于各工件匹配区域以及局部匹配模型，确定与各工件匹配区域对应的局部匹配区域；基于与各工件匹配区域对应的局部匹配区域以及第一相对位置关系的各待测工件的第一特征测量区域，确定第一待测量图像

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同共精密成形申请一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置专利，测量方法操作简便、扩展成本低

国家知识产权局信息显示，同共（湖北）精密成形有限公司申请一项名为“一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置”的专利，公开号CN 121048497 A，申请日期为2025年9月。专利摘要显示，本发明涉及一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置，该方法包括以下步骤：调节触发器和待测物品的相对高度，使触发器位于待测物品的第一待测面的垂直投影内；水平移动待测物品，以使触发器与第一待测面接触，记录待测物品的第一水平位置；调节触发器和待测物品的相对高度使触发器位于待测物品的第二待测面的垂直投影内水平移动待测物品，以使触发器与第二待测面接触，记录待测物品的第二水平位置；通过第一水平位置和第二水平位置来计算第一待测面和第二待测面的间距。本申请能在现有的二维影像测量仪上进行拓展，基于现有的二维影像测量仪

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同共精密成形申请一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置专利，测量方法操作简便、扩展成本低

国家知识产权局信息显示，同共（湖北）精密成形有限公司申请一项名为“一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置”的专利，公开号CN 121048497 A，申请日期为2025年9月。专利摘要显示，本发明涉及一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置，该方法包括以下步骤：调节触发器和待测物品的相对高度，使触发器位于待测物品的第一待测面的垂直投影内；水平移动待测物品，以使触发器与第一待测面接触，记录待测物品的第一水平位置；调节触发器和待测物品的相对高度使触发器位于待测物品的第二待测面的垂直投影内水平移动待测物品，以使触发器与第二待测面接触，记录待测物品的第二水平位置；通过第一水平位置和第二水平位置来计算第一待测面和第二待测面的间距。本申请能在现有的二维影像测量仪上进行拓展，基于现有的二维影像测量仪

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#作物株高测量仪#IN-ZG01作物株高测量仪测量范围：40-300cm（400cm可定制）测量精度：1mm测量方式：光学测距外壳材质：铝合金软件系统：Android工作时间：连续工作能力超过10小时#植物株高测量仪#

#作物株高测量仪#

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#小麦株高测量仪# IN-ZG02小麦株高测量仪技术参数测量范围：5-260cm测量精度：1mm测量方式：光学测距外壳材质：铝合金软件系统：Android工作时间：连续工作能力超过10小时#作物株高快速测量仪#

#小麦株高测量仪#

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#小麦株高测量仪#IN-ZG02小麦株高测量仪技术参数测量范围：5-260cm测量精度：1mm测量方式：光学测距外壳材质：铝合金软件系统：Android工作时间：连续工作能力超过10小时#作物株高快速测量仪#

#小麦株高测量仪#

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2025年外延层厚度测量仪，薄膜厚度测量仪，光学膜厚测量仪厂家最新推荐，解析多层膜检测能力与数据重复性

在 2025 年的先进制造业领域，外延层厚度测量仪、薄膜厚度测量仪以及光学膜厚测量仪的重要性愈发凸显，其精度和可靠性直接影响着产品的质量和性能。根据中国仪器仪表行业协会最新发布的白皮书数据，这些测量仪在半导体、光学、显示等关键行业的应用占比逐年上升，市场对于高精度测量设备的需求呈爆发式增长。协会通过对全国范围内近百家相关企业的产品进行严格测评，从测量精度、多层膜检测能力、数据重复性、稳定性以及售后服务等多个维度，运用先进的检测设备和科学的评估方法进行综合考量。测评依据国家相关标准以及国际先进的技术规范，确保测评结果的权威性和公正性。在此，为大家推荐两家在此次测评中表现卓越的测量仪厂家。一、测量仪厂家推荐榜推荐一：岱美仪器技术服务（上海）有限公司推荐指数：★★★★★品牌介绍：岱美仪器技术服务（

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中图仪器申请循环测量方法和影像测量仪专利，提高多个待测工件的测量效率

国家知识产权局信息显示，深圳市中图仪器股份有限公司申请一项名为“一种循环测量方法和影像测量仪”的专利，公开号CN121323525A，申请日期为2025年10月。专利摘要显示，本申请涉及一种循环测量方法和影像测量仪。所述方法包括：确定多个所述待测工件的摆正坐标系；基于所述摆正坐标系以及所述预设排布方式，确定所述扫描装置的扫描路径；确定第一待测工件的工件坐标系以及第一待测工件的特征测量区域；确定第一待测工件的工件坐标系以及第一待测工件的特征测量区域之间的相对位置关系；按照扫描路径依次控制扫描装置获取包括各待测工件的特征测量区域的扫描图像，并分别于各待测工件的扫描图像中根据相对位置关系确定各图像中的特征测量区域，以得到各待测工件的扫描结果。采用本方法能够提高按照预设排布方式进行排布的多个待测工件

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新瑞得仪器申请基于智能影像分析的全站仪精准测量方法专利，显著提升自动化程度与测量精度

国家知识产权局信息显示，常州市新瑞得仪器有限公司申请一项名为“基于智能影像分析的全站仪精准测量方法及全站仪系统”的专利，公开号CN121409198A，申请日期为2025年11月。专利摘要显示，本发明提供一种基于智能影像分析的全站仪精准测量方法及全站仪系统，应用于测量与智能感知技术领域，包括如下步骤：基于主视图像确定靶标中心最终像素坐标和图像残差；建立最终像素坐标与全站仪测距轴方向角之间的映射关系，得到靶标的方向角与俯仰角；计算光轴偏移角并驱动全站仪伺服系统进行对准；基于主、辅视图像的视差计算深度初值，并结合全站仪实测距离计算测距误差；构建包含图像残差、测距误差和光轴偏移角的联合优化函数，并通过最小化联合优化函数实现系统优化。通过影像识别模块、测距模块、姿态传感模块与控制反馈算法的深度耦合，

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