测量仪器校准-赛克数码

共享智能机器取得中心测量仪激光定位简易校准装置专利，可直接在厂区测量校准

国家知识产权局信息显示，共享智能机器（苏州）有限公司取得一项名为“一种中心测量仪激光定位简易校准装置”的专利，授权公告号CN223870013U，申请日期为2025年4月。专利摘要显示，本实用新型涉及大型机械工件检测技术领域，尤其涉及一种中心测量仪激光定位简易校准装置，包括底座和激光定位块，激光定位块的顶部安装有激光器，所述底座上开设有与激光定位块相滑动的滑槽，底座的顶部一侧通过连杆连接有连接筒，连接筒的工作端开设有通孔，连接筒的顶部设有将所述通孔遮盖的校准膜。本方案通过在底座上开设有与激光定位块相滑动的滑槽，对激光定位块进行定位，激光定位块中激光器发出的激光打到校准膜上，按照精度线中心的位置进行校准。该校准装置结构简单，成本低，适用于机械加工厂家，且无需连接电脑设备，可直接在厂区测量校准。

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中图仪器申请匹配测量方法及影像测量设备专利，提高测量结果的准确度

国家知识产权局信息显示，深圳市中图仪器股份有限公司申请一项名为“一种匹配测量方法及影像测量设备”的专利，公开号CN121383857A，申请日期为2025年12月。专利摘要显示，本申请涉及一种匹配测量方法及影像测量设备。所述方法包括：利用扫描装置获取第一待测工件的扫描图像，并于第一待测工件的扫描图像中确定图像匹配模板以及与图像匹配模板关联的第一特征测量模板；确定图像匹配模板以及第一特征测量模板之间的第一相对位置关系；基于多个待测工件的位置，控制扫描装置获取目标待测工件的扫描图像，并基于图像匹配模板在目标待测工件的扫描图像中确定图像匹配区域；基于目标待测工件的扫描图像中的图像匹配区域以及第一相对位置关系，于目标待测工件中确定第一特征测量区域；基于第一特征测量区域得到目标待测工件的测量结果。采用

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中图仪器申请多层匹配测量方法及影像测量设备专利，能够提高测量结果的效率和准确度

国家知识产权局信息显示，深圳市中图仪器股份有限公司申请一项名为“一种多层匹配测量方法及影像测量设备”的专利，公开号CN121366163A，申请日期为2025年12月。专利摘要显示，本申请涉及一种多层匹配测量方法及影像测量设备。所述方法包括：基于模板工件的工件图像，确定工件匹配模型、至少一个局部匹配模型、至少一个第一特征测量模型以及各局部匹配模型与各第一特征测量模型之间的第一相对位置关系；基于扫描装置对载物台的第一选定区域进行拍摄得到的第一待测量图像以及工件匹配模型，在第一待测量图像中确定至少一个工件匹配区域；基于各工件匹配区域以及局部匹配模型，确定与各工件匹配区域对应的局部匹配区域；基于与各工件匹配区域对应的局部匹配区域以及第一相对位置关系的各待测工件的第一特征测量区域，确定第一待测量图像

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上海福林检测技术取得振簧式电场测量仪水平校准设备专利，能够实现对电场测量仪极其精细的水平校准

国家知识产权局信息显示，上海福林检测技术有限公司取得一项名为“一种振簧式电场测量仪水平校准设备”的专利，授权公告号CN223857259U，申请日期为2025年2月。专利摘要显示，本实用新型公开了一种振簧式电场测量仪水平校准设备，涉及测量仪设备技术领域，包括底座以及底座下端设置的支撑架；所述底座上方设置有安装板，且安装板下端中间固定安装有连接杆，并且连接杆下端贯穿底座下方，而且连接杆下端固定安装有调节球，所述底座上设置有自动水平校准机构，并且底座上端右侧球连接有调节缸。使用者处于地面不平整的环境中时，底座下端的撑架接触不平整的地面，安装板内部的自动寻水平机构发挥作用，调节球通过引力的作用使得调节球始终与地面垂直，使得调节球上端的连接杆带动安装板保持水平，使得电场测量仪本体一直保持水平，能够实

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同共精密成形申请一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置专利，测量方法操作简便、扩展成本低

国家知识产权局信息显示，同共（湖北）精密成形有限公司申请一项名为“一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置”的专利，公开号CN 121048497 A，申请日期为2025年9月。专利摘要显示，本发明涉及一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置，该方法包括以下步骤：调节触发器和待测物品的相对高度，使触发器位于待测物品的第一待测面的垂直投影内；水平移动待测物品，以使触发器与第一待测面接触，记录待测物品的第一水平位置；调节触发器和待测物品的相对高度使触发器位于待测物品的第二待测面的垂直投影内水平移动待测物品，以使触发器与第二待测面接触，记录待测物品的第二水平位置；通过第一水平位置和第二水平位置来计算第一待测面和第二待测面的间距。本申请能在现有的二维影像测量仪上进行拓展，基于现有的二维影像测量仪

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同共精密成形申请一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置专利，测量方法操作简便、扩展成本低

国家知识产权局信息显示，同共（湖北）精密成形有限公司申请一项名为“一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置”的专利，公开号CN 121048497 A，申请日期为2025年9月。专利摘要显示，本发明涉及一种基于二维影像测量仪的测量方法和测量装置，该方法包括以下步骤：调节触发器和待测物品的相对高度，使触发器位于待测物品的第一待测面的垂直投影内；水平移动待测物品，以使触发器与第一待测面接触，记录待测物品的第一水平位置；调节触发器和待测物品的相对高度使触发器位于待测物品的第二待测面的垂直投影内水平移动待测物品，以使触发器与第二待测面接触，记录待测物品的第二水平位置；通过第一水平位置和第二水平位置来计算第一待测面和第二待测面的间距。本申请能在现有的二维影像测量仪上进行拓展，基于现有的二维影像测量仪

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#作物株高测量仪#IN-ZG01作物株高测量仪测量范围：40-300cm（400cm可定制）测量精度：1mm测量方式：光学测距外壳材质：铝合金软件系统：Android工作时间：连续工作能力超过10小时#植物株高测量仪#

#作物株高测量仪#

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#小麦株高测量仪# IN-ZG02小麦株高测量仪技术参数测量范围：5-260cm测量精度：1mm测量方式：光学测距外壳材质：铝合金软件系统：Android工作时间：连续工作能力超过10小时#作物株高快速测量仪#

#小麦株高测量仪#

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#小麦株高测量仪#IN-ZG02小麦株高测量仪技术参数测量范围：5-260cm测量精度：1mm测量方式：光学测距外壳材质：铝合金软件系统：Android工作时间：连续工作能力超过10小时#作物株高快速测量仪#

#小麦株高测量仪#

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中图仪器申请循环测量方法和影像测量仪专利，提高多个待测工件的测量效率

国家知识产权局信息显示，深圳市中图仪器股份有限公司申请一项名为“一种循环测量方法和影像测量仪”的专利，公开号CN121323525A，申请日期为2025年10月。专利摘要显示，本申请涉及一种循环测量方法和影像测量仪。所述方法包括：确定多个所述待测工件的摆正坐标系；基于所述摆正坐标系以及所述预设排布方式，确定所述扫描装置的扫描路径；确定第一待测工件的工件坐标系以及第一待测工件的特征测量区域；确定第一待测工件的工件坐标系以及第一待测工件的特征测量区域之间的相对位置关系；按照扫描路径依次控制扫描装置获取包括各待测工件的特征测量区域的扫描图像，并分别于各待测工件的扫描图像中根据相对位置关系确定各图像中的特征测量区域，以得到各待测工件的扫描结果。采用本方法能够提高按照预设排布方式进行排布的多个待测工件

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