国家知识产权局信息显示，恩德斯豪斯分析仪表两合公司申请一项名为“测量装置”的专利，公开号CN121364152A，申请日期为2025年7月。
专利摘要显示，本发明涉及一种测量装置。一种具有用于光学测量介质的至少一个被测变量的光学传感器的测量装置（100、200、300），其包括封闭壳体（1）、具有布置在壳体（1）中的测量室（5）的流动池（3）、布置在壳体（1）中的参考室（7）和可旋转地安装在壳体（1）中的载体（9）。光学传感器包括至少一个光源（Li）和至少一个检测器（Dj），其布置在载体（9）上，使得当载体（9）处于可通过旋转载体（9）到达的测量位置时，可使用光学传感器在位于测量室（5）中的介质上执行被测变量的测量，并且当载体（9）处于可通过旋转载体（9）到达的参考位置时，可使用光学传感器在位于参考室（7）中的参考介质上执行参考测量。
声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。